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Acreditação Nº |
30 |
Data da Acreditação |
30/04/1992 |
ACREDITAÇÃO VIGENTE |
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Última Revisão do Escopo |
17/07/2019 |
Razão Social |
YOKOGAWA AMERICA DO SUL LTDA. |
Nome do Laboratório |
LABORATÓRIO DE METROLOGIA YOKOGAWA |
Situação |
Ativo |
Endereço |
Alameda Xingu, 850 |
Bairro |
Alphaville Industri |
CEP |
06455030 |
Cidade |
Barueri |
UF |
SP |
Telefone |
(11) 5681-2459 / 1264 |
Fax |
(11) 5681-2408 |
ESCOPO DA ACREDITAÇÃO - ABNT NBR ISO/IEC 17025 - CALIBRAÇÃO
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Descrição do Serviço |
Parâmetro, Faixa e Método |
Capacidade de Medição e Calibração (CMC) |
(Realizados nas instalações permanentes) |
INSTRUMENTOS DE MEDIÇÃO DE TEMPERATURA
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Medidor de Temperatura para Sensor Termopar | -200ºC até 10ºC | 0,05ºC | | >10ºC até 1000ºC | 0,03ºC | | >1000ºC até 1370ºC | 0,08ºC | | >1370ºC até 2300ºC | 0,2ºC | | Método de comparação direta com fonte de tensão e multímetro padrão | | Medidor de Temperatura para Sensor Termorresistivo ou Outros Sensores | -200ºC até 850ºC | 0,05ºC | | Método de comparação direta com década resistiva e multímetro padrão | |
SIMULADORES (CALIBRADORES)
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Simulador de Termopares | -200ºC até 10ºC | 0,05ºC | | >10ºC até 1000ºC | 0,03ºC | | >1000ºC até 1370ºC | 0,08ºC | | >1370ºC até 2300ºC | 0,2ºC | | Método de comparação direta com multímetro padrão | | Simulador de Termorresistência | -200ºC até 850ºC | 0,05ºC | | Método de comparação direta com multímetro padrão | |
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Observações:
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A capacidade de medição e calibração (CMC) refere-se á menor incerteza que o Laboratório é capaz de obter, com uma probabilidade de abrangência ou nível da confiança de aproximadamente 95%.
Caso o laboratório utilize mais de um método para realizar uma determinada calibração ou medição, a CMC se referirá ao método pelo qual o laboratório obtém a menor incerteza de medição. (Ver NIT-Dicla-021)
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A CMC identificada por um asterisco (*) não inclui todas as contribuições oriundas do instrumento ou padrão calibrado ou do dispositivo medido.
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O Laboratório poderá declarar em seus certificados de calibração, incertezas de medição maiores que a sua CMC, devido às contribuições relativas ás propriedades ou características do padrão ou instrumento de medição calibrado.
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